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关于“CS995型红外碳硫分析仪”的相关推荐正文

廊坊CS995型红外碳硫分析仪信息推荐「英飞思科学」

来源:英飞思科学 更新时间:2025-04-28 06:18:49

以下是廊坊CS995型红外碳硫分析仪信息推荐「英飞思科学」的详细介绍内容:

廊坊CS995型红外碳硫分析仪信息推荐「英飞思科学」 [英飞思科学)]"内容:

1. 铅(Pb) 使用该物质的例子:焊料、玻璃、PVC稳定剂

2. (Hg)()使用该物质的例子:温控器、传感器、开关和继电器、灯泡

3. 镉(Cd ) 使用该物质的例子:开关、弹簧、连接器、外壳和PCB、触头、电池

4. 六价铬(Cr 6+ ) 使用该物质的例子:金属防腐蚀涂层

5. (PBBS) 使用该物质的例子:阻燃剂,PCB、连接器、塑料外壳

6. 多二苯醚(PBDE) 使用该物质的例子:阻燃剂,PCB、连接器、塑料外壳

RoHS检测方法可以参考IEC62321:2008电子电气产品中六种限用物质浓度的测定程序

首先用XRF光谱仪进行无损筛选,快速,非破坏性,成本低。但干扰因素多,误差较大。

XRF光谱RoHS分析仪以其可进行快速无损筛检的性能,受到多个行业的青睐,其中包括

儿童用品

玩具、首饰、小饰品、蜡笔、粉笔、塑料、餐盒及背包

服装和服饰:衣服、拉链、纽扣、贴花、莱茵假钻、镶边、袋子和钱夹。

材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话,多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄,直径1-5微米,也就是说照射到样品的区域会很小,所以不均匀样品检测会不准确,当然主要也是看不均匀程度。

你的交错规律排列指的什么?如果是一层高分子,一层无机物,在一层高分子一层无机物,并且每层的厚度一定(比如层高分子都是10微米厚)。这样的可以在一定程度上看成是均匀的,但是用X荧光光谱仪测量还是有问题,因为X荧光透过不同物质有厚(某元素的X荧光透射不出来的厚度,原因是自吸收)的问题。

这类标物目前有欧盟研制的用于塑料样品X射线荧光分析的, 代号JSAC0651-55, 圆片状, 规格为4*40 mm;用于塑料样品X射线荧光分析的铅、镉、铬、, 代号JSAC0631-32, 圆片状, 规格为4*40mm;还有我国研制的RoHS检测X射线荧光分析用ABS中的铅、镉、铬、, 代号GBW (E) 081634-081638, 圆片状, 规格为4*40 mm;Ro HS检测X荧光分析用PVC中的铅、镉、铬、, 代号GBW (E) 081121-081125, 圆片状, 规格为4*40 mm。

Compass500能量色散ROHS分析仪在快速无损、 现场ROHS筛选分析方法中, 具有不可取代的地位。 无论是从硬件方面还是软件方面, 特别是近几年, 随着微电子技术、 计算机技术、 核技术和材料科学技术的发展, X射线光谱现场ROHS分析仪在以下几方面将得到进一步的发展。

以上信息由专业从事CS995型红外碳硫分析仪的英飞思科学于2025/4/28 6:18:49发布

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苏州英飞思科学仪器有限公司
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